JTAG 紧张应用于：电路的边界扫描测试与可编程芯片的在线体系编程。
JTAG是英文“Joint Test Action Group（团结测试举动构造）”的词头字母的简写，该构造创建于1985 年，是由几家紧张的电子生产厂商提倡制定的PCB 与IC 测试尺度。
JTAG 发起于1990 年被IEEE 答应为IEEE1149.1-1990 测试访问端口与边界扫描布局尺度。该尺度划定了举行边界扫描所必要的硬件与软件。自从1990 年答应后，IEEE 分别于1993 年与1995 年对该尺度作了增补，形成了现在利用的IEEE1149.1a-1993 与IEEE1149.1b-1994。
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